Oppervlakteanalyse:

Secundaire Ionen Massaspectrometrie(SIMS)

• Massaspectra bij een dieptepenetratie van 1-2 nm
• Spatial imaging (resolutie van 300 nm)
• Diepteprofilering

Toepassingen:
Oppervlakteverontreiniging en behandeling oppervlaktestudies.

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

• Elementaire samenstelling en bindingsmilieu op een diepte van ~ 10 nm
• Spatial imaging (resolutie van 6 µm)
• Diepteprofilering met een in-situ argon etssysteem

Toepassingen:
Het volgen van samenstellingswijzigingen gedurende chemische processen zoals fotodegradatie

Right: Image of the XPS equipment. XPS was used to obtain data on the elemental composition of a surface treatment applied to engineering components to improve their oxidative stability. Results of the XPS analysis enabled FaraPack Polymers to identify suppliers of coating materials with the same elemental composition.

Scanning Elektronen Microscopie (SEM)

• Topografische weergave op millimeterschaal
• Hoge spatiale resolutie (maximum 1,2 nm)

Toepassingen:
Beeldweergave van diverse objecten zoals vezels en deeltjes.

Right: Scanning Electron Micrograph of electrospun polymer fibres. These fibres were prepared as a scaffold for tissue engineering. In this study a knowledge of the structure of a fibre 'pad' was essential to evaluate how it would interact with cells, and so might assist wound healing.

Atomic Force Microscopy (AFM)

• Beeldweergave onder vloeistoffen en omgevingscondities
• Beeldweergave op micrometerschaal met nm resolutie
• Spatial mapping van oppervlakteeigenschappen zoals hardheid en hydrofiliciteit

Toepassingen:
Onderzoek van fase-afscheiding in polymeermengsels en intelligente polymeersystemen onder vloeistof.

Right: AFM image of the surface contours of an organic semiconductor polymer blend on the nanometre scale.